T/CIE 134-2022 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法

本文件规定了磁随机存储芯片数据保持时间测试方法的测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本文件适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。

中标分类：  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路  ICS分类：  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布部门：  中国电子学会 发布日期：  2022-08-10 实施日期：  2022-08-10

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